Объект-микрометр калибровочный Kepler

Объект-микрометры ОМО (для отраженного света) и ОМП (для проходящего света) (далее - ОМ) предназначены для определения увеличения линейного поля зрения микроскопов, проекторов, цены деления окулярных шкал и сеток. Описание средства измерений

Принцип действия ОМ - измерение длины методом сравнения путём наложения изображения его шкалы на измеряемый объект. ОМ представляет собой стеклянную пластину прямоугольного сечения. Шкаловая поверхность расположена в центре пластины. На шкаловой поверхности методом фотолитографии нанесены штрихи: позитив (для проходящего света) или негатив (для отраженного света). Справа и слева от основной шкалы может быть нанесено не более четырёх штрихов с тем же шагом.